
可定性測試電容器漏電的實(shí)用電路設(shè)計
發(fā)布時間:2014-10-22 責(zé)任編輯:sherryyu
【導(dǎo)讀】電解電容器時間用長后就會出現(xiàn)漏電現(xiàn)象,但是我們很多時候不知道還能不能繼續(xù)使用,所以需要測量電容的漏電現(xiàn)象。這里分享一個技術(shù)行業(yè)通用的可定性測試電容器漏電的實(shí)用電路設(shè)計,幫大家來判斷電容還能不能使用。
電解電容器時間用長后就會出現(xiàn)漏電現(xiàn)象,附圖所示的電路能讓你測試電容器的漏電,并且決定它們是否值得使用,你可以通過CREF/RREF的比值抑制泄漏。

附圖中的比值適用于從1納法的陶瓷電容器到1000微法的電解電容器等所有電容器的通用測試。電路中CREF的數(shù)值與待測電容器CX的數(shù)值相近,你也可以通過一個旋轉(zhuǎn)開關(guān)選擇RREF,使其大于或小于22MΩ。
工作原理
當(dāng)按鈕開關(guān)合上時,電容器CREF和CX通過它們各自的PNP晶體管進(jìn)行充電。當(dāng)該開關(guān)斷開時,電容器CREF和CX開始放電。假定CREF處在良好狀態(tài),它具有一個附加的放電外接電阻RREF,待測電容器CX通過其內(nèi)部電阻放電。
如果CX的放電比CREF通過RREF的放電快,此時其電壓將下降較快,這樣,運(yùn)算放大器的同向端輸入電壓將比其反向端輸入電壓低,迫使運(yùn)算放大器的輸出變低,從而點(diǎn)亮紅色發(fā)光二極管。該發(fā)光二極管指明待測電容器CX漏電,該測試電路表明甚至一個1納法的陶瓷電容器都適應(yīng)來比作參考,測試前請檢查待測電容器CX的標(biāo)稱電壓應(yīng)比其待充電電壓要高。
運(yùn)算放大器LF357具有10V的最小電源電壓,本測試電路只選取6V電壓是為了容許待測電容器CX一個低的上限電壓。
特別推薦
- 國產(chǎn)芯片與系統(tǒng)深度融合!兆易創(chuàng)新聯(lián)袂普華軟件破局汽車電子
- 揭秘未來勞動力:貿(mào)澤與Molex新電子書解析機(jī)器人技術(shù)變革
- 臺積電大陸芯片生產(chǎn)遇阻,美國豁免撤銷加速國產(chǎn)替代進(jìn)程
- 2025年Q2全球DRAM營收突破316億美元,創(chuàng)近年單季最高漲幅
- 200W開關(guān)功率:Pickering 600系列繼電器通吃高壓高能場景
技術(shù)文章更多>>
- 安森美亮相PCIM Asia 2025,帶來汽車、工業(yè)及AI數(shù)據(jù)中心電源技術(shù)盛宴
- 中國電子展組委會聯(lián)袂電子制造產(chǎn)業(yè)聯(lián)盟:四地探企,智啟新程
- 單對以太網(wǎng)新突破:10BASE-T1L實(shí)現(xiàn)千米級工業(yè)通信傳輸
- 電子電路無聲衛(wèi)士:扼流線圈技術(shù)演進(jìn)、應(yīng)用生態(tài)與全球供應(yīng)鏈格局
- 未來工廠:利用搭載人工智能的傳感器在邊緣做出決策——第2部分
技術(shù)白皮書下載更多>>
- 車規(guī)與基于V2X的車輛協(xié)同主動避撞技術(shù)展望
- 數(shù)字隔離助力新能源汽車安全隔離的新挑戰(zhàn)
- 汽車模塊拋負(fù)載的解決方案
- 車用連接器的安全創(chuàng)新應(yīng)用
- Melexis Actuators Business Unit
- Position / Current Sensors - Triaxis Hall
熱門搜索
MCU
MediaTek
MEMS
MEMS傳感器
MEMS麥克風(fēng)
MEMS振蕩器
MHL
Micrel
Microchip
Micron
Mic連接器
Mi-Fi
MIPS
MLCC
MMC連接器
MOSFET
Mouser
Murata
NAND
NFC
NFC芯片
NOR
ntc熱敏電阻
OGS
OLED
OLED面板
OmniVision
Omron
OnSemi
PI